由北京中科泛華測控技術有限公司(簡稱“泛華測控”)DAQ事業(yè)部舉辦的“2010數(shù)據(jù)采集全國巡回研討會”即將全面啟動。
本次研討會將以快速搭建高效精準的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)為核心,以X系列和CompactDAQ數(shù)據(jù)采集革新技術為切入點,深度剖析NI公司數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品從入門到高級的具體行業(yè)應用。
X系列數(shù)采卡憑借高處理能力的PCI Express總線、NI-STC3定時和同步技術、多核獲得優(yōu)化的驅動與應用軟件,將性能提升至新高度;
CompactDAQ將用于USB的NI信號流技術與真正的即插即用軟件體驗相結合,在精小便攜、簡單易用、低價位的系統(tǒng)中實現(xiàn)快速精確的測量應用。在本次研討會中,我們將就如何利用這些模塊,快速建立一個便捷、易用、安全、可靠、穩(wěn)定而精確的測試測量系統(tǒng),與各位參會工程師進行深入探討,并分享我們歷年來在多領域的成功案例。
2009年,DAQ事業(yè)部全國巡回研討會在全國9大城市成功舉辦,有近千名測試測量工程師和國家重點工程項目負責人參與其中。今年,研討會將途經(jīng)無錫、北京、廈門、上海、蘇州、天津、杭州、常州、西安、合肥等地,輻射全國,貫穿全年,其覆蓋面之廣、影響之深遠,是關注數(shù)據(jù)采集服務的各類人群不可忽略的交流平臺。
作為專業(yè)數(shù)據(jù)采集服務供應商將繼續(xù)幫助企業(yè)不斷提高核心競爭力,最大程度的降低成本,縮短開發(fā)周期,共同開創(chuàng)測試測量行業(yè)的未來!
關于“泛華測控”
泛華測控成立于1997年,經(jīng)過十余年的發(fā)展如今已成為國內(nèi)現(xiàn)代測試測量技術的先鋒。泛華測控以“柔性測試”技術為支撐,專業(yè)從事測控產(chǎn)品的研究和開發(fā),并提供集成、校準和培訓等服務;泛華測控專注于生產(chǎn)過程中測試測量的解決方案和成套設備,其服務廣泛覆蓋航空航天、汽車、船舶、電子、電力等領域。在汽車行業(yè),曾出色地為西門子VDO、霍尼韋爾、湖北二汽、德爾福等顧客提供優(yōu)質(zhì)的服務,并贏得了“測量精確”、“服務周到”、“理解深刻”等贊譽。
關于NI
30多年來,美國國家儀器公司(NI)幫助測試、控制、設計領域的工程師與科學家解決了從設計、原型到發(fā)布過程中所遇到的種種挑戰(zhàn)。通過現(xiàn)成可用的軟件,如LabVIEW, 以及高性價比的模塊化硬件,NI幫助各領域的工程師不斷創(chuàng)新,在縮短產(chǎn)品問世時間的同時有效降低開發(fā)成本。如今,NI為遍布全球各地的25,000家不同的客戶提供多種應用選擇。NI總部設于美國德克薩斯州的奧斯汀市,在40個國家中設有分支機構,共擁有5,000多名員工。